愛德萬發表IC記憶體測試機　降低5G產品開發成本

愛德萬測試(Advantest)發表多功能H5620ES工程測試系統，針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試，為H5600記憶體測試機家族再添生力軍。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試之間所需的時間，最新H5620ES大幅降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。

新款測試機具備優異的生產力，能針對DDR4和DDR5進行平行測試，並容納頻率100-MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體IC，系統已針對產品開發工作進行使用優化，其精巧的設計能節省空間讓實驗室環境更機動，再加上頂部開放的機體設計很容易執行取放作業，不用先移開裝置界面板(DIB)。

H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite作業系統，因此測試波形相同。它也支援預先測試(pre-testing routines)，譬如在轉移到H5620測試機以前，先在H5620ES系統進行檢查 ，藉以縮短生產週期時間。

愛德萬測試記憶體ATE事業群副總Takeo Miura表示，快速成長的5G市場對最新資料儲存IC的需求量大增，我們新發表的H5620ES系統能協助業者，大幅精簡產品開發與品質提升所需要的成本。