Mentor近期宣布推出新的Tessent軟體安全生態系統，為該公司透過與合作夥伴結盟提供的汽車IC測試解決方案，該計畫可協助IC設計團隊滿足全球汽車產業日益嚴格的功能安全要求。
Mentor Tessent產品副總裁暨總經理Brady Benware表示，對於要縮短故障偵測和啟用晶片上安全機制之間的時間來說，快速的系統內IC測試效能至關重要。為加速IC測試效能，汽車IC設計人員日益需把包括可測試性設計(DFT)和非DFT技術等所有的晶片上安全機制緊密結合—而此作法正是Mentor新Tessent Safety生態系統的基礎。
相較於業界其它以封閉、單一來源模型為基礎的計畫，Tessent Safety生態系統提供替代方案。Mentor的開放式生態系統做法可確保IC測試的功能安全，使晶片製造商可以把IC測試技術與其他業界解決方案結合。
透過與Mentor合作夥伴的深度合作，Tessent Safety生態系統正快速擴展，其中包括Mentor內建自我測試(BIST)技術，包括具備觀測掃描技術(Observation Scan Technology)的新型Tessent LBIST(LBIST-OST)解決方案，與傳統邏輯BIST技術相比，系統內測試時間最多可縮短10倍；具自動化流程的Tessent MemoryBIST，可在RTL或閘級提供設計規則檢查、測試計畫、整合和驗證功能。由於Tessent MemoryBIST採用階層式(Hierarchical)架構，使BIST和自我修復功能可增加到各個核心以及頂層。
此外，提供自動化和晶片上IP結合的Tessent MissionMode產品，可在車輛功能運作期間的任何時間點對整個汽車電子系統中的半導體晶片進行測試和診斷；用於類比、混合訊號(AMS)和非掃描數位電路的Tessent DefectSim電晶體級缺陷模擬器。而汽車級自動測試型樣產生(ATPG)技術則可偵測傳統測試型樣和故障模型經常遺漏的電晶體和互連級缺陷。
此生態系統亦與Mentor的Austemper SafetyScope和KaleidoScope產品緊密連結，增加安全分析、自動校正和故障模擬技術，可解決隨機的硬體故障。
