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首頁 技術頻道 分析USB認證測試(上) USB3.2資料傳輸測項一網打盡

分析USB認證測試(上) USB3.2資料傳輸測項一網打盡

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另外,由於Type-C接頭有兩組資料傳輸通道,故USB-IF於2017年推出USB3.2規範,利用兩組資料傳輸針腳(Pin)的優點,可以同時以10Gbps來傳輸資料,達到雙通道最高20Gbps的傳輸速度,也讓USB不論在使用性以及便利性都更加提升。

有鑑於近幾年來USB技術的測試,因為USB Type-C&Power Delivery的加入而趨於複雜,筆者於2011年開始接觸USB-IF認證測試範疇,趁此次機會將相關測項做整理與分析,讓想了解USB技術認證的讀者,或是有USB相關產品、想執行USB-IF認證但卻不得其門而入的公司,能藉此文章有一個大概的方向與輪廓。

本文會將USB-IF認證測試分為上下兩篇文章介紹:上篇介紹USB資料傳輸,說明USB3.2實體層(Physical Layer)相關測項;下篇則為Type-C&Power Delivery,介紹Power Delivery實體層的認證項目。接下來就進入主題,讓我們一起沉浸於USB-IF的認證世界。

USB3.2實體層(Physical Layer)相關測項解說

USB3.2於2017年推出,其主要架構來自於2008年的USB3.0以及2013年推出的USB3.1。在規範中USB3.2由下面三個層面組成,因此認證性測試也針對這三個層面來做驗證(圖1):

圖1 USB3.2認證三層面

1. 實體層(Physical Layer)

2. 連接層(Link Layer)

3. 協定層(Protocol Layer)

在實體層方面,由於USB3.2同時支援Gen1的5Gbps以及Gen2的10Gbps(都以單通道來看),故測試方面也分為這兩部份,測項分別列出如下:

.TD.1.1 Low Frequency Periodic Signaling TX Test

.TD.1.2 Low Frequency Periodic Signaling RX Test

.TD.1.3 Transmitted Eye Test at 5 GT/s

.TD.1.4 Transmitted Eye Test at 10 GT/s

.TD.1.5 Transmit Equalization Test at 10 GT/s

.TD.1.6 Transmitted SSC Profile Test at 5 GT/s

.TD.1.7 Transmitted SSC Profile Test at 10 GT/s

.TD.1.8 Receiver Jitter Tolerance Test at 5 GT/s

.TD.1.9 Receiver Jitter Tolerance Test at 5 GT/s (Type-C)

.TD.1.10 Receiver Jitter Tolerance Test at 10 GT/s

TD.1.1&TD.1.2

TD.1.1&TD.1.2是針對低頻週期訊號(Low Frequency Periodic Signaling, LFPS)的測試,LFPS主要工作是用來告知接續的另外一端USB產品(稱為Link Partner)其支援USB3.2,如果Link Partner無法識別LFPS,則兩端將會以USB2.0的速度來運作。TD.1.1 LFPS Tx的測項主要在驗證傳送端(Transmitter)發出的LFPS訊號是否符合規範,認證測試中規定擷取一開始的前五根LFPS訊號做分析。分析的參數有tBurst、tRepeat、tPeriod、tRiseFall2080、Duty Cycle,VCM-AC-LFPS以及VTXDIFFPP-LFPS,其量測範圍列出如表1。

TD.1.2 LFPS Rx主要是驗證:當Link Partner發出的LFPS訊號,其某些參數處於臨界值時,待測物是否仍然可以以LFPS回應,讓雙方以USB3.2速度來做溝通。TD.1.2測試需要訊號圖形產生器(Pattern Generator)來編成參數處於臨界值的LFPS訊號,共計有表2中四種類。

TD.1.3&TD.1.4

TD.1.3與TD.1.4主要驗證傳送端發出的Gen1訊號與Gen2訊號是否符合規範,驗證時需要待測物輸出相對應的Compliance Pattern Sequence,相關Sequences定義如表3。

測試Gen1訊號時需要使用到CP0與CP1,CP0為Gen1/5Gbps Pseudo-Random Data Pattern,CP1則為Gen1/5Gbps Unit Interval Pattern,也就是Logical 1與Logical 0互相交替出現的Pattern;測試Gen2訊號則需要使用到CP9與CP10,CP9為Gen2/10Gbps Pseudo-Random Data Pattern,CP10則是Gen2/10Gbps Unit Interval Pattern。

TD.1.3與TD.1.4在測試時會模擬使用者最嚴苛的使用環境(稱為Long Channel),所以針對各種不同連接器,在量測訊號時會帶入相對應的Compliance Channel(也就是Long Channel的S-Parameter)以及Reference Equalizer來劣化/還原量測到的訊號後,再看該訊號是否仍然符合規範所訂定的標準。

另外為了怕訊號在近端連接時因為振幅(Amplitude)過大造成超出AC電壓規範最大值,該測項除了附加Long Channel的S-Parameter量測一次之外,在不加Compliance Channel的環境下,也會量測一次(稱為Short Channel)。下面列出TD.1.3與TD.1.4在不同連接器量測時所應帶入的Compliance Channel&Reference Equalizer如表4;TD.1.3&TD.1.4的量測項目則列出如表5。

TD.1.5

TD.1.5主要針對Gen2產品執行,目的為驗證傳送等量化(Transmit Equalization)。該項測試需要用到Compliance Pattern Sequence裡面的CP13到CP15,如圖2所示。

圖2 測試需要用到Compliance Pattern Sequence裡面的CP13到CP15。

它們的組成都是64的logical 1再加上64個logical 0。相異之處在於CP13有加Pre-Shoot,CP14有加de-Emphasis,CP15則是Pre-Shoot與de-Emphasis都有加(圖3)。TD.1.5量測項目的標準範圍列出如表6。

圖3 CP13-CP15-Example

TD.1.6&TD.1.7

TD.1.6&TD.1.7在量測傳送端訊號的展頻時脈(Spread Spectrum Clocking, SSC)是否符合規範。展頻時脈會在訊號上加上抖動(Jitter),主要目的為降低電磁干擾,俾能夠有效降低磁輻射含量。USB3.2規範有定義兩種展頻時脈參數,一種為一般模式(Normal Mode),另外一種為無線傳輸友善模式(Wimax Friendly Mode),產品設計時需擇一使用(圖4)。

圖4 TD1.6 TD 1.7展頻時脈參數

無線傳輸友善模式(Wimax Friendly Mode)主要是為現今RF訊號多走2.4GHz &5GHz,故在某種程度上會造成USB訊號與RF訊號之間的相互干擾。有鑑於此,USB-IF協會導入無線傳輸友善模式來解決該問題。

測試上Gen1與Gen2均會以Unit Interval Pattern,也就是CP1與CP10來量測。量測出來的數值需符合表7規範。

其中tSSC-FREQ-DEVIATION上半部為一般模式的規範值,下半部則為無線傳輸友善模式的規範值。另外這邊要注意的是由於USB3.2規範本身就容許Unit Interval有±300ppm的容許誤差,故考慮到容許誤差之後,一般模式的範圍為-3700ppm~-5300ppm;無線傳輸友善的範圍則為-1700ppm~-3300ppm。

TD.1.8~ TD.1.10

TD.1.8~TD.1.10主要為接收端(Receiver)的測試,採用的驗證方法首先需讓待測物進入回送模式(Loopback Mode, 指讓待測物接收端接收到的訊號,能再經由發送端發送出去),待測物會從接收端接收由測試設備的波形產生器(Pattern Generator)打出,在特定幾個Sj Frequencies帶有規定抖動的訊號,該訊號經由待測物裡面的時脈回復(Clock Recovery)做單元週期(Unit Interval)的切割之後,再經由發送端發回到測試設備的偵錯器(Error Detector),好跟原有波形產生器所發出訊號比對、確認訊號是否一致。

因為需要波形產生器打出訊號的抖動符合USB3.2規範,所以訊號校準(稱為Calibration Channel)是必要的。做完校準後,再依照待測物連接器的不同,使用不同的測試環境(稱為Test Channel)。各連接器對應的訊號校準與測試環境如表8、9。

目前USB3.2認證規範要求Gen1速度下傳輸3×1010bits只能有1bit跟原始來源資料(Source Data)不同,Gen2速度下則是傳輸2分鐘的資料後,只能有1bit跟原始來源資料不同。另外跟TD.1.3與TD.1.4相同,接收端的測試除了Long Channel外,也需要驗證Short Channel,驗證方法為移除Test Channel,直接以Breakout Fixture接到待測物並開始測試(圖5)。

圖5 Breakout Fixture

目前TD.1.8~TD.1.10測試瓶頸會落在進入回送模式的階段。由於USB-IF規範的各Sequences都有一定範圍,造成需要針對各待測物做Sequences上的微調,才有辦法進入回送模式而開始執行測試。

當待測物連接器為Type-C Receptacle,由於有兩對Tx/Rx,故TD.1.1、TD.1.3~TD.1.7需要正插測一次,反插再測一次。同理TD.1.2,TD.1.8~TD.1.10也一樣需要正反插都測一次。

(本文作者為百佳泰產品認證事業部副理)

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