Thunderbolt3
東芝新款TVS Diode亮相
東芝推出兩款低電容舜態電壓抑制二極體(TVS Deido)(ESD靜電放電保護二極體),兩款二極體均支援Thunderbolt 3、HDMI 2.1和USB 3.1等高速通訊標準並已開始出貨。新推出的DF2B5M4ASL支援3.6V最大工作峰值反向電壓,而DF2B6M4ASL則支援5.5V。
平板電腦、筆記型電腦和遊戲機使用10Gbps或48Gbps高速通訊標準,可將視訊資料或大型檔案的傳輸時間盡可能縮短。隨著此類高速通訊中使用的控制IC逐漸縮小化,ESD容差也在下降,因此必須加強措施以因應ESD和連接器的突波;缺少這些措施可能導致嚴重故障,例如通訊錯誤和檔案損壞。
另外,連接到高速通訊線路的元件會對信號產生重大影響;印刷電路板上的電容器和電阻器等被動元件可能會使訊號波形失真。其兩款產品利用適合高速通訊的低電容來減少這些影響。加上製程最佳化,新產品的電容(典型值)可達0.15pF,約比當前產品低25%,有助於在高速通訊中保持電路穩定。
分析USB認證測試(上) USB3.2資料傳輸測項一網打盡
另外,由於Type-C接頭有兩組資料傳輸通道,故USB-IF於2017年推出USB3.2規範,利用兩組資料傳輸針腳(Pin)的優點,可以同時以10Gbps來傳輸資料,達到雙通道最高20Gbps的傳輸速度,也讓USB不論在使用性以及便利性都更加提升。
有鑑於近幾年來USB技術的測試,因為USB Type-C&Power Delivery的加入而趨於複雜,筆者於2011年開始接觸USB-IF認證測試範疇,趁此次機會將相關測項做整理與分析,讓想了解USB技術認證的讀者,或是有USB相關產品、想執行USB-IF認證但卻不得其門而入的公司,能藉此文章有一個大概的方向與輪廓。
本文會將USB-IF認證測試分為上下兩篇文章介紹:上篇介紹USB資料傳輸,說明USB3.2實體層(Physical Layer)相關測項;下篇則為Type-C&Power Delivery,介紹Power Delivery實體層的認證項目。接下來就進入主題,讓我們一起沉浸於USB-IF的認證世界。
USB3.2實體層(Physical Layer)相關測項解說
USB3.2於2017年推出,其主要架構來自於2008年的USB3.0以及2013年推出的USB3.1。在規範中USB3.2由下面三個層面組成,因此認證性測試也針對這三個層面來做驗證(圖1):
圖1 USB3.2認證三層面
1. 實體層(Physical Layer)
2. 連接層(Link Layer)
3. 協定層(Protocol Layer)
在實體層方面,由於USB3.2同時支援Gen1的5Gbps以及Gen2的10Gbps(都以單通道來看),故測試方面也分為這兩部份,測項分別列出如下:
.TD.1.1 Low Frequency Periodic Signaling TX Test
.TD.1.2 Low Frequency Periodic Signaling RX...
安立知高速介面技術趨勢研討會於12月隆重登場
Anritsu安立知主辦的「高速介面技術趨勢研討會」於2018年12月在新竹及台北舉行,會中將安排豐富實用的課程內容搭配現場實機展示交流,一同體驗高效能的高速傳輸量測解決方案。
雲端應用普及,人們開始用照片影音記錄生活。結合5G行動網路、IoT互聯網、8K超高清影像顯示技術等相關科技日漸深入大眾日常生活,隨之而來的傳輸需求正強力帶動著高速介面發展。
高速資料中心需要更快速的介面來因應海量資料處理,400GE與PCI-e Gen4/5完美配合,使Data Center資料處理能力大幅升級;而Ethernet訊號調變格式轉向PAM4,訊號傳輸接收將會面臨什麼樣的挑戰?PCIe、USB等各種新型態的Link Training及LinkEQ測試方式簡化測試流程,是否可以使產品驗證更有效率的進行?新興VR應用的興起,且看Type-C介面如何應對?
由安立知主辦的「高速介面技術趨勢研討會」,特別邀請技流科技有限公司(GRL)及特勵達科技股份有限公司(Teledyne LeCroy)與會,共同從雲端需求探討高速傳輸 I/O 市場趨勢,會中並針對其規格與未來的測試挑戰進行介紹,深入剖析高速訊號在時域及頻域所將面臨的訊號完整性問題。