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愛德萬測試發表PCIe Gen 4 SSD全方位解決方案

半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)發表針對PCIe Gen 4固態硬碟(SSD)之開發、除錯與量產的完全整合測試解決方案,也已通過嚴謹測試的MPT3000平台,此平台系統亦獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用。MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市,並已開始出貨給客戶。 MPT3000平台現在能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求,包括運用MPT3000ES系統進行工程測試、運用MPT3000ENV系統進行可靠性驗證測試(RDT),以及運用MPT3000HVM系統進行生產測試,毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。 此外,藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程,新的解決方案將能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程,而且使用的是與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體。此全方位解決方案為SSD製造業者開拓出一條風險最低、速度最快的產品上市途徑。 愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示,為了因應各式各樣的SSD協定與規格,該公司推出模組化MPT3000平台,並且在功能方面更上層樓,能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體。該系統具備高度彈性,再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點,使其成為所有工程、量產和內建自我測試電路 (BIST)應用最理想的單一系統解決方案。  
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布局QLC 3D NAND市場 三星/WD相繼出招

瞄準3D NAND市場商機,NAND Flash廠相繼於於2018下半年推出QLC架構的3D NAND Flash。除了英特爾(Intel)與美光科技(Micron)於日前宣布,雙方聯手開發的4bits/cell(QLC)3D NAND快閃記憶體開始投產與出貨外;近期三星(Samsung)與Western Digital也相繼發表QLC 3D NAND Flash布局計畫。三星將開始量產款首款搭載QLC快閃記憶體的消費性SSD,而Western Digital則宣布已成功開發出第二代4-bits-per-cell 3D NAND架構,目前已開始送樣,預計今年量產出貨,並於旗下SanDisk品牌之消費性產品率先使用。 三星電子記憶體銷售和市場營銷執行副總裁Jaesoo Han表示,隨著該公司將產品陣容擴展到消費性電子市場和企業市場後,4-bits SSD產品將會迅速普及,擴展到任何市場。 三星指出,4-Bit QLC快閃記憶體能夠讓SSD達到540MB/s的持續讀取速度,以及520MB/s的持續寫入速度;且QLC架構的快閃記憶體可以讓這些SSD產品從 1TB起步,最高達到4TB的容量。目前已開始量產的消費級SSD,一共有1TB、2TB和4TB三種規格。 另一方面,Western Digital則宣布已成功開發第二代96層的BiCS4 3D NAND Flash。透過專為96層BiCS4產品導入的QLC技術,已成功使單顆粒3D NAND的儲存容量高達1.33 Tb(Terabits)。 Western Digital矽晶片技術與製造部門執行副總裁Siva Sivaram指出,透過Western...
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