AEC
TI新數位隔離器於高溫HEV/EV系統實現可靠通訊與保護
德州儀器(TI)近日推出首款滿足汽車電子委員(AEC)-Q100標準的Grade-0環境工作溫度規格標準的數位隔離器。ISO771E-Q1具有1.5-kVRMS工作電壓,能支援Grade-0溫度等級的最高溫150°C。新型隔離器更能保護低電壓電路,免於受到混合動力電動汽車(HEV)和電動汽車(EV)系統中高壓電流事件的影響,並且不必將之設計在冷卻系統中,就能讓溫度降低至125°C以下(通過Grade-1規格驗證的積體電路最高可支援溫度)。
此外,當在系統設計中進行靈活資料傳輸率的控制區域網路(Controller Area Network Flexible Data Rate, CAN FD)通訊時,工程師能結合ISO7741E-Q1和新型的TCAN1044EV-Q1 Grade-0 CAN FD收發器來提升車載網路(IVN)訊號保護以及覆蓋範圍。
符合Grade-0的IC能達到AEC-Q100最高溫度等級(-40°C至150°C)的要求,也能幫助工程師在嚴峻的環境中簡化HEV/EV系統設計,例如48-V的混合動力電動汽車,其內燃機和電池系統的共同運作可將IC周圍的空氣加熱到125°C以上。TI新型Grade-0裝置ISO771E-Q1和TCAN1044 EV-Q1能在高溫150°C下保持可靠的性能,可被使用在HEV/EV系統的高溫區域,而不需增加物料清單或是複雜的設計。
ISO7741E-Q1採用TI的電容隔離技術,具有高1.5kVRMS工作電壓和5kVRMS隔離電壓,讓工程師使用HEV/EV動力傳動系統和HVAC系統時能更可靠,因為這些系統需要透過隔離層進行訊號傳輸,例如啟動發電機、冷卻風扇和牽引逆變器等。
此裝置具有±100 kV/µs高度典型共模瞬態抗擾度(High Typical Common-mode Transient Immunity),以及±8-kV國際電子電機委員會(IEC)61000-4-2接觸放電保護,能夠在嚴峻的汽車環境中提供額外的系統級保護。
I-PAT一眼看穿 汽車晶圓缺陷篩選率上層樓
在對可靠性影響幾個最大的關鍵製程步驟中,採用這種被稱為「篩選」的技術對100%的晶片和100%的晶圓進行檢測。在檢測中未通過預設缺陷率標準的晶片被「篩出」或「標記」,並將其從汽車供應鏈中濾除。濾除的標準通常是根據反覆出現的客戶退貨,並且對這些產品進行故障分析以揭示容易引起問題的製程層、晶片區域和缺陷類型。在採用8D研究對可靠性問題的來源進行辨識和表徵之後,許多領先的汽車半導體客戶將堅持讓他們的IC供應商採用有針對性的篩選作為預防措施,以確保完成零缺陷的品質目標。
缺陷檢測為汽車晶片製造挑戰
篩選所用的缺陷檢測的晶圓圖上通常有太多缺陷,這是汽車晶片製造商所面臨的挑戰。當然,並非晶片上的每個缺陷都有同等機率造成晶片致命故障。但如果不對缺陷的可靠性風險做出仔細評估,就可能造成讓人無法接受的「矯枉過正」,本來可以在整個使用壽命期間正常運行的晶片也被標記濾除。
為了實現提高品質且又不會矯枉過正的雙重目標,篩選必須成功識別在ppb級品質檢驗環境中最可能出現故障的晶片,同時允許合格晶片通過品質檢驗。一種稱為線上缺陷零件平均測試(I-PAT)的新型晶片級篩選方法由此而創建。I-PAT是一種統計方法,用於識別可靠性故障發生風險較高的晶片。
零件平均測試(PAT)由汽車電子委員會(AEC)於1997年首次認可,目前已被廣泛使用。其理念是採用電性測試,並將每個零件的性能參數與大量產品的資料分布進行比較和評估。那些符合規格但在產品正態分布之外的晶片被視為異常零件;實際結果表明,這些異常零件更容易產生可靠性故障,因此可以將其從供應鏈中濾除。參數化零件平均測試(P-PAT)的概念現已進一步發展並包括了其他幾種不同的辨識異常晶片的方法。
圖1顯示了該測試的基本概念。晶片A來自主要數值分布的中間,晶片B則遠低於零件平均測試的下限。因此,晶片B多半會被濾除以免其造成可靠性風險。
圖1 大部分零件(晶片)的資料都在狹窄的淺灰色分布範圍內,零件平均測試限度之外的任何零件儘管完全合乎規格也都將因其可靠性風險而報廢。
線上缺陷零件平均測試是將這個異常零件分析原則擴展用於線上缺陷資料。目前已經確定,給定晶片中可靠性缺陷的發生率與缺陷總數呈線性正比;如果晶片A缺陷數目是晶片B的十倍,那麼即使兩個零件在最終測試中都完全正常運行,晶片A也有著十倍可能性會發生可靠性故障。
這種簡單的關係可以用數學公式1來表示,其中P(LRD)是第i個晶片包含潛在可靠性缺陷(LRD)的概率,Ni是晶片I上的缺陷總數,m是比例常數(0<m<<1)。
公式1
在最基本的I-PAT使用中,可以將一個或多個關鍵篩選層的缺陷數目加總,以獲得晶圓上每個晶片的累積缺陷數目,並對該資料採用異常零件確定方法。由此篩選出的異常晶片中包含可靠性缺陷的統計概率是最高的。有了這些資訊,汽車製造廠可以有意識權衡並劃分異常零件的離群距離與最終良率損失,並以此確定針對該元件可以接受的品質風險。圖2顯示了晶圓上四個不同製程層的晶片累計缺陷數目。
圖2 晶圓上所有晶片的缺陷率可以用帕累托圖顯示。大多數晶片只有0~1個缺陷,但是一小部分將會是高缺陷率的異常零件。I-PAT方法允許工廠選定異常零件的限度,對於給定的元件或客戶在合適的風險和良率損失之間做出權衡。
I-PAT降低晶圓篩選難度
I-PAT是一種相對簡單的方法,可以很容易地加進大多數晶圓廠的篩選方法中。一旦到位,可以透過將特定的線上缺陷類型與工廠的可靠性經驗、探針資料、老化和最終測試資料以及客戶退貨等訊息相關聯並加以改進。這將指明那些與良率和可靠性最為相關的製程層和缺陷及其界定屬性。而這些屬性,可以讓已知的可靠性風險缺陷的識別更加便捷。
一旦確定了缺陷屬性和可靠性風險之間的相關性,就可以通過為每個缺陷類型分配權重並創建每個晶片的潛在缺陷概率指數(LDPI)以提升性能。使用LDPI時,採用了相同的I-PAT統計異常晶片的原則,但現在每個缺陷都根據其可靠性風險的相關性進行了加權。
使用加權I-PAT而不是總缺陷數有助於濾除與可靠性的相關性較弱的缺陷,並提升相關性強的缺陷訊號。雖然僅僅憑藉總缺陷數篩選異常晶片就可以顯著提高晶片可靠性,但採用加權方法可以更為有效。加權I-PAT透過減少矯枉過正和要求不嚴來提供更有效的篩選。I-PAT的線上異常晶片檢測也可以與探針和測試資料相結合,在測試決策過程中加入缺陷資訊以決定邊緣晶片的去留(圖3)。該技術顯示出那些通過探針和測試的風險晶片,並且還被更有效地用於指引區域零件平均測試,發現可能通過其他方式漏網的風險晶片(圖4)。
圖3 I-PAT異常晶片缺陷識別結合探測和最終測試資料可以完善合格/濾除的決策。
圖4 區域零件平均測試(G-PAT)能夠將那些在電性測試失敗的壞晶片附近的晶片篩選出來,儘管這些晶片本身會通過電性測試。缺陷引導的G-PAT使用I-PAT來識別具有相同缺陷源的其他缺陷異常晶片,在使用先前的方法時這些晶片可能會漏網。在這個刮痕的示例中,3表示的高風險晶片可能會進入汽車供應鏈並造成可靠性故障。
透過製程控制降低整體缺陷率仍然是在汽車零缺陷環境中提升可靠性的主要方法。偏移監控和持續改進計劃是製程控制的基礎,需要時間和紀律,但對於降低製程設備缺陷率是至關重要的。新興技術,例如I-PAT篩選,正在逐漸被推廣使用。作為傳統製程控制的補充方法,篩選是IC汽車製造廠向客戶提供優質產品的最快捷和最便宜的方式。篩選技術提供了識別和阻止個別高風險晶片進入供應鏈所需的安全網,是實現自動駕駛所需的亞ppb品質目標的下一步。
(本文作者David W. Price、Jay Rathert為KLA資深總監;Douglas Sutherland為KLA首席科學家)
HiWire AEC產品/標準雙管齊下 Credo推動400G不遺餘力
為加快400G部署,默升科技(Credo)日前發布HiWire主動式乙太網路纜線(Active Electrical Cables, AEC),並已進入量產階段;而為了推動AEC普及率,Credo也宣布成立HiWire Consortium聯盟,致力於新型主動式乙太網路纜線(AEC)的標準化與認證。
隨著人工智慧(AI)、機器學習(ML)和影片工作負載的不斷擴展,資料中心的頻寬需求引發部署400G的緊迫性。為滿足此需求,Credo積極加速HiWire AEC系列產品的研發與生產。
Credo執行長Bill Brennan表示,HiWire AEC為計畫部署400G的業者提供了新選擇,其具備主動光纜(AOC)的優點,但成本、功耗更低。特色包括高速率、高訊號完整性(低BER)、高性能(低功耗)、高品質/可靠度、高工作溫度、高彈性等。且還可以隨插即用,並提供系統級、線纜內速度轉換方案,實現50G PAM4交換機埠與廣泛使用的25G NRZ伺服器無縫連接。
Credo執行長Bill Brennan指出HiWire Consortium聯盟提供的框架可為400G及未來更高速頻寬發展提供強勁的可互通性解決方案。
Brennan進一步說明,此一AEC連接解決方案正廣泛地部署在雲端、服務提供商和企業網路中。HiWire AEC讓系統供應商在尋找資本支出和營運成本之平衡解決方案的同時,亦能更快速地邁入400G。目前該產品已在12.8TB交換機上使用,並實現CLOS資本支出降低50%、功耗降低40%及光埠數量降低75%等目標。
另一方面,Credo也成立HiWire Consortium聯盟,致力於建立和持續開發AEC標準。該標準定義了眾多業界多源協議(Multi-source Agreements, MSAs)的具體建置方法和正式認證過程,將為超大規模資料中心、電信和企業市場提供多源且可靠的隨插即用AEC生態系統。
Brennan指出,HiWire Consortium的目標在於引領業界推出隨插即用的AEC、依據現有標準制定HiWire AEC規範、核准認證測試規範等。目前聯盟成員已包括智邦科技、台達電、英特爾(Intel)、廣達集團、是德科技(Keysight)、Innovium、Juniper Networks等,未來還會尋求更多合作夥伴和晶片業者加入,集結各方資源進而實現可靠電纜解決方案。