愛德萬
愛德萬測試機首次用於中國AIoT量產產品
愛德萬測試為在中國設計和製造的智慧物聯網(AIoT)元件首次量產測試所需,安裝多套V93000 Wave Scale RF 系統。測試機台將用來量測由無晶圓廠恒玄科技(Bestechnic)設計、江蘇長電科技(JCET)江陰廠製造的高度整合藍芽音效系統單晶片(SoC)。而JCET也預計在今年下半年安裝更多V93000 Wave Scale RF測試機,持續為高產量且成本敏感的AIoT產業提供解決方案,並準備迎接新興5G市場的技術挑戰。
深受肯定的V93000 Wave Scale RF平台以低測試成本為AIoT及5G元件,提供全方位及高解析度的測試解決方案。並藉由搭配小型A類測試頭、Wave Scale MX卡和最新一代 SmarTest 8軟體,可針對無線通訊所需的射頻(RF)及混合訊號積體電路(IC)產品,提供具高度多元件同測及元件內部平行測試的能力。此系統的高產能特性,除了能急速壓縮新IC設計測試成本和上市時間,同時為評估未來支援無線連接的5G 產品創造了一條路徑。
Bestechnic測試經理黃新華指出,Wave Scale RF平台是最適合Bestechnic AIoT產品量產的測試解決方案,可同時滿足低成本和高性能的需求,此外,最新的SmarTest 8 軟體也節省很多產品上市時間。
JCET的IC事業中心總經理李全兵則提到,除了在所有恒玄科技的產品上導入V93000 Smart Scale RF...
愛德萬發表最新光聲顯微鏡Hadatomo Z
半導體測試設備廠商愛德萬測試,日前發表了最新的光聲顯微鏡Hadatomo Z,以非侵入性的方式取得真皮層血管資料後,系統即可快速將血管以3D成像。此套新系統則透過光聲波界定血管網絡構造、結合超音波界定真皮層構造等方式,將血管網絡以3D成像,再以最新設計高解析度的超音波感應器,將影像層疊為高解析度的3D影像出圖。
Hadatomo Z 是一台移動方便、操作簡便的光聲顯微鏡,其活動機臂上嵌有測量元件,並安裝在具有腳輪的系統本體上。全新Hadatomo Z突破了傳統單波長血管分析的局限,可交替輻射出兩種不同波長的光聲波。Hadatomo Z可依照血管內不同的含氧係數,區分出動脈和靜脈。當其交替輻射出兩種不同波長的光聲波後,動脈和靜脈將會顯現出不同的吸收係數,然後便可利用這些吸收系數,來計算出血氧濃度。
超音波測量方法相當適合用在表皮層/真皮層的分析上,因為其還能顯現出肌膚凹凸不平、或毛孔、皮脂腺等問題。Hadatomo Z會同步進行超音波測量和光聲波測量,然後將光聲波所取得的血管構造影像、以及超音波所取得的真皮層構造影像層疊。因此,能以3D成像的方式,正確顯現出血管位置,其深度可達真皮層內3mm。
專訪愛德萬機電整合事業處/新產品事業處副總經理蘇勇鴻 高效解決方案克服IoT測試挑戰
愛德萬機電整合事業處/新產品事業處副總經理蘇勇鴻表示,IoT基本上是一個很廣義的名詞,涵蓋各種應用市場,例如車聯網、行動通訊、AR/VR、醫療等領域。而為能大量生產IoT產品,自動化測試需求持續增加,除了單顆IC測試之外,也有越來越多的模組需要測試。然而,不論是何種IoT產品、元件或模組等,除了要有傳輸功能、夠高的安全防護,另一個要點便是低功耗,也就是夠省電,也因此,量測儀器商便須針對這些測試需求推出更高效的解決方案。
為此,愛德萬日前便宣布於該公司旗下的V93000單一可擴充平台,新搭載FVI16浮動電源VI供應器,使其性能再升級。據悉,FVI16可用於測試汽車以及工業用或消費性行動充電應用的電源與類比IC,包括成長快速的電動車和快充市場。新電源供應模組能提供250瓦高脈衝功率,直流電供應最高可達40瓦,充足的電源供給使機台能在測試新一代元件的同時,兼顧穩定而重複的量測工作。
除此之外,該產品還具備更高的儀器通道密度,能做到細密精微的系統設置以配合該公司旗下A級測試接頭,進而降低測試成本;且還具備16通道加上4象限作業,使電源供應得以在高電流測試時達到單片測試卡最高155安培的測試。至於在高電壓測試方面,該產品則能達到單卡+180伏特,浮動電壓範圍 +200伏特的功能;另外還具有整合快速電流限流保護設定,能防護載板硬體、探針卡接腳與待測物插座,以免元件毀損造成短路。
愛德萬機電整合事業處/新產品事業處副總經理蘇勇鴻(右2)表示,如何滿足效能、尺寸及電源,是IoT測試須克服的挑戰。
愛德萬研發STT-MRAM切換電流測量系統
半導體測試設備領導供應商愛德萬測試宣布與日本東北大學創新整合電子系統中心(CIES)的合作,本計畫由東北大學電機研究所教授遠藤哲夫主持,成功地研發出高速、高精確度模組,可以測量磁性隨機存取記憶體(STT-MRAM)中記憶束的切換電流,這是眾所期待用於愛德萬測試記憶測試系統的次世代記憶技術,運作速度為微安培/奈米秒。
由於這項科技的創新,使得觀察STT-MRAM記憶單元每分鐘通過電流變化成為可能,此外,由於運用新研發技術開發成功的此測試系統,也讓STT-MRAM故障分析及STT-MRAM技術實務應用又向前跨出了一大步。這項測試科技除應用於STT-MRAM系統外,也可用於其他如ReRAM及PCRAM電阻改變類的記憶系統上。
STT-MRAM記憶單元由磁隧結(MTJs)及晶體管組成,記憶單元堆疊排列,形成儲存器陣列。一個MTJ就是一個非揮發性記憶元素,運用磁阻效應記錄資料。除了不需搭配備用電源外,STT-MRAM結合了所有高速操作、低電壓操作及高重寫容差的特色,據說這是其他非揮發性記憶技術所難以達到的境界。全球各研究機構及公司目前都在進行STT-MRAM的研發。
此項新科技除了能應用在研發,另外用於大量生產、高效率及使用記憶測試系統的績效評估正確性都非常重要。然而,目前STT-MRAM的切換是隨機的現象,利用電子的量子機械性以及熱誘發波動;此外,這些電流非常弱,一般低於100微安培甚至更小,出現的時間也僅僅數奈米秒,因為即使測量設備可能量測在單一隧結處或單一記憶電池中的磁力切換,但對於多重記憶單元中的儲存器陣列的測量仍有困難。
愛德萬測試及東北大學CIES攜手合作研發出用於愛德萬測試系統的高精密度、高速電流測試模組,成功的執行了實驗測量電阻內每分鐘的變化以及在STT-MRAM切換操作過程中電流每奈米秒單位間的轉變次數。實驗中,由包含一個MTJ及一個晶體管組成的記憶單元STT-MRAM測試晶片,裝置於一個工業用標準尺寸300毫米的矽晶圓上,成為原型,晶圓表面整體都進行測量。這項研究的成功為高效率與高精密度STT-MRAM分析錯誤技術的發展樹立了新的里程碑。期望這項成功可以改善生產率,並提升STT-MRAM的實用性。
滿足多元/複雜測試需求 愛德萬強打高彈性解決方案
5G、人工智慧(AI)、區塊鏈以及物聯網(IoT)是近年半導體產業的熱門話題,而隨著相關應用越趨廣泛,半導體對於系統單晶片(SoC)、記憶體還是處理器等關鍵元件的要求也不斷提升。如何因應多元且複雜的應用需求,提供高穩定性、高效能的測試解決方案,以提升生產量,遂成為半導體業者與儀器測試商共同關注的焦點。
愛德萬機電整合事業處/新產品事業處副總經理蘇勇鴻表示,該公司主要鎖定行動裝置、記憶體與IoT這幾個大的應用領域。其中,行動裝置近年的發展焦點,不外乎就是5G時代的大頻寬、高資料傳輸速率以及更佳的顯示器技術;在記憶體的發展則會著重於,滿足數據中心(Data Center)所需的記憶體空間;此外,如何同時滿足應用對於運算效能、裝置尺寸以及電源管理要求,則是IoT在發展過程中須克服的挑戰。
5G大頻寬、高資料傳輸速率與低延遲的應用發展在即,但愛德萬SoC業務部協理劉經彥指出,部分IoT並不須要用到那麼大的頻寬與資料傳輸速率,裝置設計會以更佳的電池續航力與更小的尺寸為首要考量。因此,測試儀器必須有足夠的整合性、靈活性與擴充性,才能滿足從IoT到4G甚至5G的各式應用需求。
因應上述發展趨勢,該公司也在2018年推出新卡板(如FVI16),擴充原有的測試平台,滿足多元應用市場。據悉,FVI16單元具備高儀器通道密度,能達到細密精微的系統設置以配合A級測試接頭,進而降低測試成本。該卡板提供16通道加上4象限作業,使電源供應得以在高電流測試時達到單片測試卡最高155安培的測試;此外,在高電壓測試方面,則能達到單卡+180伏特,浮動電壓範圍+200伏特的功能。
除此之外,愛德萬也在2018年推出出具溫控測試的創新IC自動分類機、PCIe Gen 4 SSD全方位測試解決方案及高速記憶體晶片測試系統,以應對行動裝置、記憶體與IoT等應用市場越趨多元且複雜的測試需求。