工程模擬
Ansys舉辦工程模擬虛擬高峰會 攜手合作夥伴模擬防疫情境
面對COVID-19疫情持續延燒,全球工程模擬領域商安矽思(Ansys)致力與客戶以及合作夥伴攜手應對挑戰,宣布將於6月10日至11日線上舉辦全球最大工程模擬高峰會,並與合作夥伴進行各類防疫情境與醫療病房與設備的設計製造等模擬,攜手應對COVID-19疫情帶來的嚴峻挑戰。
Ansys將於2020年6月10日和6月11日線上舉辦沉浸式虛擬實境高峰會Ansys Simulation World,希冀透過免費的數位模擬論壇,激勵並啟發高階主管、學者、產業領導者、工程師、研發以及製造專業人員等業界精英,深入瞭解工程模擬的變革力量與全新技術。活動將邀請Ansys總裁暨執行長Ajei Gopal、技術長Prith Banerjee以及具前瞻性的業界領導者進行主題演說,分享並探索當前蓬勃發展的自動駕駛、電氣化、工業物聯網、5G、數位轉型與LS-DYNA等領域的未來趨勢洞察,並瞭解如何運用Ansys模擬解決方案強化產品開發、工作流程與客戶體驗。
參加者可透過各類分組論壇、數位展區導覽、實作即時的「Ask the Experts Bar」、以及線上聊天室的小組討論,與專家、合作夥伴與使用者進行互動,瞭解模擬技術未來發展方向、Ansys全新產品、服務與解決方案,同時也可透過Ansys客戶案例分享,深入頗析最佳實踐,探討如何使用模擬工作轉變研發,並提升新品開發與推向市場的速度。欲報名者可造訪Ansys Simulation World進行註冊,即可自任何地點、透過任何裝置,免費參與線上高峰會。
而為幫助全球健康醫療人員、政策制定者以及組織與社區共同防疫COVID-19的挑戰,Ansys與合作夥伴攜手,透過Ansys工程模擬軟體,模擬各種COVID-19的傳播與感染途徑,藉由物理分析說明遠離感染的最佳方案,提供防疫洞察。重點包括:保持社交距離:由於病毒會快速在空氣中擴散,與人距離應維持在2公尺以上,重力會將飛沫液體拉到地面,風險大大降低。Ansys與合作夥伴埃因霍溫理工大學(Eindhoven University of Technology)Bert Blocken以及天主教魯汶大學(KU Leuven)Fabio Malizia建立模型,強調運動時應保持1.5公尺以上空間,避免跑步者或自行車騎士間的飛沫傳播。
正確配戴口罩:配戴口罩可將感染他人風險降低多達6倍,然而長時間配戴口罩會產生不適,醫護人員時常拿下口罩更會破壞臉部與口罩間密封效果,提升感染風險。透過模擬軟體可進行口罩位置調整確保與臉部正確密封。
模組化負壓隔離病房設計:負壓隔離病房能減少醫護人員在救治病患同時面對病毒暴露威脅。Ansys工程模擬軟體可演示負壓病房的不同設計,幫助改善通風口位置與送風機容量。
有效進行房間與設施消毒:Ansys與合作夥伴InSilicoTrials Technologies進行模擬實驗,改善消毒過程,能有效確保室內的潔淨。
確保自駕車可靠性 車電元件模擬至關重要
隨著車用電子的角色從娛樂轉為協助駕駛人,進而完全掌控車輛,對可靠度的要求亦越來越高。關鍵車用電子系統至少要有10年的壽命,處於引擎蓋下的環境也很惡劣,溫度可高達攝氏150度。而模擬工具可幫助工程師針對電子系統進行模擬、除錯與最佳化,涵蓋可能導致自駕系統故障的各種議題。同時,模擬有助於設計可靠高效率的電子系統,以滿足自駕應用的嚴格可靠度要求。本文將聚焦在可靠度和晶片-封裝-系統CPS)模擬的各個層面,有助於催生封裝/系統感知積體電路IC設計和IC感知封裝/系統設計(圖1)。
圖1 運用模擬工具RedHawk-CTA和Icepak進行晶片-封裝-系統熱可靠度分析。
可靠度為自駕車設計主要挑戰
現在的駕駛人越來越仰賴電子系統確保安全性,像是近來盛行的先進駕駛輔助系統(ADAS)功能,進一步提升電子設備對車輛安全的重要性。當然新興的自駕系統,能瞭解每一個能夠想到的駕駛情境,並做出判斷,確保車輛乘客行人的安全,將進一步增加駕駛、乘客和行人安全對車用電子的依賴。
現在有很多車用電子皆使用較舊的半導體製程,因為其特徵尺寸較大以及設計師的經驗,這些應用的可靠度相對上較容易驗證。但ADAS和自駕科技使用的感測器會產生大量數據,處理速度必須超快,延遲亦需要很低。這些應用需要大幅提升運算能力,因此必須使用剛上市的最先進半導體製程,其特徵尺寸也小得多。
以先進製程設計的新一代積體電路將更多電晶體壓縮到更小的面積上,提供最高運算效能。這些IC運作的供電電壓要低得多,因此更容易受電源和訊號雜訊耦合的影響。在許多情境下,這些半導體需在溫度可達攝氏135度的引擎蓋下運作,因此更容易因高溫導致故障,這亦是一大挑戰。而許多車用電子會暴露在水和塵土下,所以必須密封,進一步增加散熱挑戰。因此如何提供足夠冷卻的難度亦增加。
強化晶片可靠性 電子飄移現象須消除
由於支援ADAS和自駕的車用電子須採先進製程,其普級化使電子飄移(EM),使用期限的可靠度問題,成為關鍵的系統設計議題。電子飄移指的是電子流經積體電路並撞擊導體內的金屬原子,逐漸造成開路或短路,長久下來將導致晶片故障。由於導體的橫切面隨著製程的引進而縮小,晶片變得更容易受到電子飄移影響。電子飄移的現象亦隨著溫度大幅上升,先進2.5D和3D積體電路使得晶粒(Die)愈放愈近,產生熱點(Thermal Hot Spots)的機率亦隨之升高。
我們通常不知道晶片上各導體的溫度,因此設計工程師會替晶片假設一個最壞狀況的均勻溫度。此做法對較舊的製程夠用,但現在先進製程轉換速度更高、導體更細、層數更多,使用此方法大幅地增加EM違規現象(EM Violations)。設計團隊花在評估與修正這些違規的時間亦越來越長,但是如果模擬採用正確的非均溫度剖面圖(Temperature Profile),即能發現許多EM違規現象是假的並且絕對不可能被觸發。
為此,模擬工具如安矽思(ANSYS)旗下的RedHawk平台藉由準確地決定元件和金屬周遭的溫度,正確預測EM違規現象,來處理這些挑戰(圖2)。該平台運用焦耳自加熱(Joule Self-heat)和晶片內金屬導體間的熱耦合原則來製作升溫模型,元件溫度是各電晶體耗電流量以及與鄰近電晶體距離的函數;並運用晶圓廠的製程參數,加上晶粒上金屬和介電質(Dielectric)的熱特性,正確預測局部區域的溫度變化。
圖2 以ANSYS RedHawk-CTA進行晶片和封裝熱分析
另外,該平台亦根據晶片上各導線實際經歷的溫度,運用溫度剖面圖來進行熱感知(Thermal-aware)EM查核。此做法能大幅減少EM違規現象的數量,提供的診斷資訊亦遠多於過去。工程師能將精力集中在真正重要的EM違規現象上,並更快修復,大幅減少產品上市時程並降低EM故障風險。
提升車用電子可靠性 熱效應不容忽視
熱效應是確保關鍵車用電子可靠度的另一個重要考量。就晶粒和封裝層次而言,工程師必須確保整個晶片的溫度絕對不會高過最高運作溫度,同時也必須評估運作時的熱週期,因為晶圓和金屬層的熱膨脹係數(Coefficients of Thermal Expansion, CTEs)不同,此會導致晶粒和封裝變形。
另外,電路板層級的熱週期亦可能因為銅和介電質之間的差異造成壓力,變形會造成連接電路板和晶片的錫球(Solder Ball)伸縮,可能導致焊錫疲勞(Solder Fatigue)和其他故障。
因應此一需求,車用電子元件的設計工程師,能夠運用ANSYS晶片熱模型(Chip Thermal Models, CTMs)處理晶粒層級的熱可靠度問題,進而達成完整的晶片與封裝共同分析。
接著,ANSYS Mechanical能夠沿用分析的溫度剖面圖,進一步預測晶粒的熱或機械負載對壓力、張力,以及變形的溫度影響。
就電路板層次而言,能夠用ANSYS SIwave Signal Integrity Analyzer計算印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB)電路和鑽孔(Vias)的焦耳熱,評估電路板電路圖和電流密度預測。無縫銜接至Icepak系統層級熱模擬工具,計算主機板的垂直熱傳導率(Orthotropic...