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首頁 分析USB認證測試(下) USB PD實體層測項了然於胸

分析USB認證測試(下) USB PD實體層測項了然於胸

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本文會將USB-IF認證測試分為兩部分介紹:上篇為USB資料傳輸,介紹USB3.2實體層(Physical Layer)相關測項;下篇則為Type-C&Power Delivery,介紹Power Delivery實體層的認證項目。

USB PD測試規範解析

USB Power Delivery於2015年5月的USB-IF Workshop #95開始認證,到今年也已經3年。在認證籌備時期為了縮短測試時間,協會決定採取自動化測試(Automation Test),故需要一種能描述待測物在USB Type-C與Power Delivery能力的檔案,稱為廠商資訊檔案(Vendor Info File, VIF)。測試時只要將該檔案匯入儀器後即可開始測試。

另外也有兩家測試儀器廠商協助USB-IF開發相關測試項目,故在開始認證時出現一份測試規範(Compliance Test Specification),卻有兩份執行方法(Method Of Implementation),分別為MQP的Communication Engine PD Compliance MOI(最新版本為1.09)以及Deterministic PD Compliance MOI(最新版本為1.13)。

這兩份MOIs有各自的實體層測項,分別列出如(表1):

由於篇幅的關係,這次介紹會著重於Communication Engine PD Compliance MOI的實體層測項。至於Deterministic PD Compliance MOI的實體層測項,未來有機會再做深入淺出的介紹。

在Communication Engine PD Compliance MOI方面,傳送端的測試需要要求待測物發出支援SOP的BIST Carrier Mode 2,此時待測物會交替發出Logical 1與Logical 0,且須維持30ms~60ms。訊號擷取後會依照Logical 1與Logical 0來分別疊眼圖,其眼圖遮罩圖(Eye Mask)(圖1)相關規格如表2,此外也會驗證下面規範值(表3):

圖1 待測物眼圖遮罩示意圖

接收端的測試從兩方面來驗證,一是驗證接收端是否能精準識別Bus Idle Condition以及False Bus Idle Condition(RECEIVE裡BUSIDL結尾的測項),二則驗證接收端是否能正常接收帶有干擾(Interference)訊號的能力(RECEIVE裡INT-REJ結尾的測項)。

在BUSIDL結尾的測項中,Bus Idle Condition的驗證時,測試儀器會先發送內建自我測試資料訊息(BIST Test Data Message)並暫時關閉測試儀器的接收端;接著儀器會立刻持續發送195us的Logical 0(目的是為了讓CC line不處於Bus Idle Condition),然後再打開儀器的接收端,此時待測物10ms內不能回覆GoodCRC。

至於False Bus Idle Condition的驗證,測試儀器一樣會先發送內建自我測試資料訊息、暫時關閉儀器接收端。接著持續438.6us發送規定的雜訊(Noise),然後再打開儀器的接收端,此時待測物要無視雜訊而回覆GoodCRC。詳細測試解釋請見圖2說明:

圖2 False Bus Idle Condition測試示意圖

而在INT-REJ結尾的測項中,如前面所說為驗證接收端能正常接收帶有干擾訊號的能力。此時測試儀器共會發出13,362次帶有干擾訊號的內建自我測試資料訊息,而待測物接受到每一次的訊息,都必須回覆GoodCRC;換言之,只要有一次沒有回覆,即無法通過該項測試。

測試中共制定3組干擾訊號,分別為Tx Group 1到Tx Group 3,其組成參數分別如下表4所示:

測試中要用到哪幾組干擾訊號,取決於待測物的PD Power Role,如果待測物Power Role為PD Sink,則驗證Tx Group 1與Tx Group 2;如果待測物為PD Source,則驗證Tx Group 1與Tx Group 3;而如果待測物為E-Maker,則3組干擾訊號都須驗證。

在最新版本的Communication Engine PD Compliance MOI中,針對干擾訊號也制定了3種產生方式,分別為任意波形產生器(Arbitrary Waveform Generator, AWG)(圖3),帶通型濾波器(Band Pass Filter, BPF)(圖4)與複頻弦波噪音(Two-tone Sinusoidal Noise)。

圖3 任意波形產生器示意圖
圖4 帶通型濾波器示意圖

這3種產生方式從2019年8月舉行的USB-IF Workshop #110開始導入。認證測試規定,只要能通過其中一種方式所產生的干擾訊號,便算通過該項測試。

MISCELLANEOUS測項解析

介紹完了TRAMSMIT與RECEIVE,接下來要介紹最後一部份MISCELLANEOUS相關測項。MISCELLANEOUS的測項也分兩部分,分別為TERM結尾的測項以及MSG結尾的測項。

TERM結尾的測項主要在驗證待測物的阻抗(Impedance),由於阻抗無法實際量測,所以會以量測CC line上有Rp/Rd電阻的電壓值來反推阻抗值是否符合規範。

該測項分別會驗證幾個環境下CC line的電壓值,列出如下(表5):而MSG結尾的測項則主要驗證待測物在特定情境下能否做正確的回應。

上述測試情境的回應正確與否端看各待測物的設計,判斷的標準則看廠商資訊檔案裡面的參數設定,故如果待測物的設計和廠商資訊檔案的參數不一致,測試儀器則會發生錯誤判斷,不可不慎。最後要提醒各位,當待測物為E-Maker時,每項測試對Vconn都有特定的要求。

USB-C規格複雜 產品設計挑戰高

現今市面上超過5Gbps的高速訊號越來越多,但相對要求的產品尺寸卻越來越小,因此在設計上,如何將這麼多高速訊號的走線放在一塊小小的PCB板上、又不相互干擾,著實考驗著大家的創意與智慧。

目前有消息指出USB-IF與VESA將會在2019年推出USB4.0和DisplayPort2.0,單通道速度都上看20Gbps,相信屆時在產品設計上又會是一個新的挑戰。百佳泰在USB,DisplayPort,HDMI與ThunderBolt3等高速訊號均被授權為認證實驗室,也跟各協會合作開發下一世代的標準與規範;多年下來累積的技術知識,以及業界經驗的RD團隊,能在客戶產品遇到問題時提供整改的建議與方向。

希冀能透過本文的介紹,讓讀者能了解USB 3.2、Power Delivery測試的驗證重點。在高速傳輸介面技術日趨複雜的今日,如何在新規格推出初期,就能透過精準的量測服務,來減少開發時間與成本,將會是各開發商不可不重視的重要課題。

(本文作者為百佳泰產品認證事業部副理)

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